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- 在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。在X≥3N的距离上,当声程不变,孔径增加1倍时,球孔的回波高度差为（）。横波探伤时调节扫描速度的方法有（）。散射线对照相底片的影响主要降低射线照相的
- A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。锻件探伤中,引起底波降低或消失的原因有（）。以下哪一条不是产生未焊透的原因（）缺陷的性质和大小
缺陷的形状和取向
缺陷的回波幅度和时间距离#
超声波的波形
- 横波探伤时调节扫描速度的方法有（）。在进行无损检测时必须根据无损检测的目的,正确选择（）。高感光度的X光胶片比低感光度的胶片对比度（）。声程调节法
水平距离调节法#
深度调节法
以上都是无损检测的实施时机
- （）是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。利用（）,可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传播方向,可以解释声波在均匀和非均匀介质中传播的许多现象。当缺陷很小时,平面型缺陷和球面型缺
- 以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。钢棒和型材中常见的缺陷分为（）。超声波的声速一般只与介质的（）有关,而与频率无关。在X≥3N的距离上,当（）不变,声程增加1倍时,大平底的反射声压为原来的1/2倍。不考虑探
- 共振式超声波测厚仪是利用超声波的（）原理设计的。白点是一种细微的裂纹,它是由于（）因素而产生的。介质中（）相同的所有质点的轨迹称为波阵面。波的衍射是指波在传播过程中,若遇到障碍物或其他不连续的情况,而使
- 影响直接接触法超声耦合的因素有（）。半波透声层是指使藕合层厚度为其半波长的（）。下述有关咬边缺陷产生原因的叙述,哪一条是错误的（）耦合层厚度
超声波在耦合介质中的波长
耦合介质声阻抗
以上都对#整数倍#
奇
- 若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,将引起（）。当声压反射率为负值时,表示反射波相位与入射波相位（）。仪器垂直线性的好坏直接影响到对（）的判断。（）可获得较高的频率。荧光磁粉
- （）是指将超声连续波加在被检测材料上,根据其共振状态来测定厚度或有无缺陷等材料性质的方法。在X≥3N的距离上,当声程不变,孔径增加1倍时,球孔的回波高度差为（）。对超声波探伤试块材质的基本要求是（）。下列（）
- 晶片共振波长是晶片厚度的（）。X射线基本性质是（）。在国际单位制中,常用（）表示磁场强度。A、2倍#
B、1/2倍
C、1倍
D、1/4倍射线本身不带任何电性,不受电场,磁场影响
可使胶片感光,可使荧光物质发生荧光现象
可
- 一般来说,对仪器衰减器精度的要求是任意相邻12dB的误差（）。散射衰减是指由于材料（）不均匀,从而引起声能的散射。一般来说探头指向角越小（）,从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。对超声波探伤试块
- 超声仪中使用校准过的衰减器的目的是（）。在X光管中,阴极到阳极的电子运动速度取决于（）。射线透照厚度1.25in的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为（）。为了减少来自元件本身散射
- 调节衰减器旋钮可以改变仪器的（）。惠更斯原理是指：介质中波动传到的任意一点都可看作为发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的（）就形成了一个新的波阵面。（）可获得较高的频率。管材水浸探伤要求管材中声
- 声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于（）。对射线的衰减,下列（）叙述是正确的。透照厚度差别较大的工件时,为了增大宽容度,可以采用（）方法。射线照相时,在暗盒背放置铅板的原因是（）。X射线机采用（）的冷却方式
- 一般（）,主声束越窄,声能量越集中,则探测灵敏度就越高。道德是人们应当遵守的（）和标准。焊缝内的气孔最适合的无损检测方法为（）。如果介质是连续分布的,则其中任何一点的振动将引起相邻各点的振动,因而在波动中
- 由于波的绕射,使超声波探伤灵敏度约为（）,因此提高频率,有利于发现更小的缺陷。当横波入射到平面缺陷时,会产生（）现象,这与波的入射角有关。X射线管的发射效率主要取决于（）。波长的1/2#
1个波长
1/4波长
若干个
- （）是指把被检测工件的一部分浸在水中或被检测工件与探头之间保持水层而进行探伤的方法。气孔、欠铸、冷隔和夹渣是由（）工艺引起的缺陷。（）是指介质中任意一点的声压与该质点的振速之比。下列不属于射线检测方法
- （）是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。焊缝中的（）缺陷最适合的无损检测方法为超声波探伤。近场区长度是指声束轴线上最后一个声压（）点至声源的距离。（）可获得较高的频率。对连续X
- 下列说法正确的是（）。无损检测是在现代科学技术上发展的。是指在不破坏被检材料的情况下,以（）为手段,借助先进的技术和设备器材,对被检对象的内部或表面进行检测或测定。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的（）。光电
- 下列（）探伤中最可能使用25MHz的探头。检查高强度钢焊缝有无延迟裂纹,无损检测实施的时机,就应安排在焊接完成（）进行。同一时刻介质中振动相位（）的所有各点的轨迹称为波阵面。在吸收剂量相同的情况下,下列（）射
- （）方式能够产生与工作平面图形重叠的缺陷面积记录。当缺陷很小时,平面型缺陷和球面型缺陷的回波幅度（）。晶体材料在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场
- （）可获得较高的频率。（）是指同一介质中传播的几个声波,若同时到达某一质点,则该质点的振动是各个声波所引起振动的合成。对射线的衰减,下列（）叙述是正确的。机电耦合系数Kt较大
频率常数Nt较大、介电常数ε较小#
- （）较大可获得较高的接收灵敏度。波长是指在（）中,相邻两个同相位质点间的距离。脉冲重复频率是指（）。共振式超声波测厚仪是利用超声波的（）原理设计的。超声试验系统的灵敏度（）。能量为2MeV的γ射线源,经过3个
- 超声波探伤仪在单位时间内所产生的脉冲数目叫做（）。射线束有窄束和宽束之分,它们的区别是（）。X光机的额定管电压指的是（）。在X射线管中管电压、管电流相同情况下,焦点尺寸越小,则焦点部位的温度（）。下述无损
- 探头频率与晶片厚度有关,晶片越薄（）。连续X射线的总强度可表达为（）。射线束有窄束和宽束之分,它们的区别是（）。GB3323-87B标准规定：观片灯的最大亮度不小于（）。从可检测的最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵
- 为了有助于分辨力的提高,宜采用（）。职业道德是指人们在一定的（）范围内遵守的行为规范的总和。波长是指在（）中,相邻两个同相位质点间的距离。影响直接接触法超声耦合的因素有（）。定影液中主要的成分是（）。高
- 缺陷距离远时,要采用（）。（）是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,是扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。一般指向角（）,探测灵敏度就越高,可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。射线检测不
- 脉冲重复频率是指（）。当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率（）。（）是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生（）。α射
- 若仪器重复频率过高,将会出现（）。介质中波动传到的任意一点都可看作为发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的包罗就形成了一个新的波阵面。这一现象称为（）。一般（）,主声束越窄,声能量越集中,则探测灵敏度
- A型扫描显示中,（）是指始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间。波源为一无限长柱体,这是因为（）。若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,为了提高声能的传递,应选用（）。连续谱X射线透照工件时,
- 超声波探伤中,“盲区”是指（）。检测工件表面开口性的缺陷,最适合的无损检测方法为（）。（）缺陷是原材料带来的缺陷。参考反射体定位的依据是（）在时基线上的位置。射线安全防护措施,一般不作为考虑因素的是（）。
- 可以改变仪器灵敏度的控制开关或旋钮有（）。以下与再热裂纹有关的叙述是（）。在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。能量为2MeV的γ射线源,经过3个半衰期后,其γ射线的能量为（）。X、γ射线的
- 灵敏度余量是探头和仪器的综合性能,是指整个探伤系统发现（）的能力。工件的（）最适合的无损检测方法为PT。当缺陷很小时,平面型缺陷和球面型缺陷的回波幅度（）。半波透声层是指使藕合层厚度为其半波长的（）。对比
- 在大多数情况下（）频率的探头分辨率最好。工件的（）最适合的无损检测方法为PT。横波入射到平面缺陷时,会产生波型转换现象,这与波的（）有关。0.25MHz
2.5MHz
25MHz#
上都一样内部气孔
中部裂纹
表面开口缺陷#
近表
- 影响仪器灵敏度的旋钮有（）。下列（）适合于渗透检测方法。在X≥3N的距离上,当声程不变,孔径增加1倍时,长横通孔的回波高度差为（）。通常计算几何不清晰度所用的焦点尺寸就是（）。X射线管防止电极材料氧化的方法是
- 一般指向角（）,探测灵敏度就越高,可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。连续谱射线穿透一定厚度的物体后,其发生的变化之一是（）。对于核反应堆的核燃料质量检查,较适宜的无损检测方法是（）。越小#
越大
- 为了有助于分辨力的提高,则宜采用（）。焊缝中的（）缺陷最适合的无损检测方法为超声波探伤。可变角探头主要用于（）。在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是（）。能量扩散的探头
高频率#
低频率
以
- 分辨力是仪器和探头的综合性能指标。能区分相邻两缺陷的距离越小,分辨力（）。超声波倾斜入射至异质界面时（第二介质为固体时）,透射波发生波形转换,分离为折射纵波和折射横波。两种折射波的传播方向不同,且也不同于
- 在增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波高度的分贝差值称为（）。当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率（）。连续X射线波长与下列（）因素有关。探测范围
动态范围#
垂直
- 增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波（）的分贝差值称为动态范围。气孔、欠铸、冷隔和夹渣是由（）工艺引起的缺陷。仪器（）的好坏直接影响到对缺陷位置的判断。在直探头探伤过程中,引起底波高
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