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- X射线的强度由撞击阳极靶的()确定。()缺陷是原材料带来的缺陷。为了有助于分辨力的提高,宜采用()。电流
电子数#
电压
中子数疲劳裂纹
腐蚀裂纹
淬火裂纹
疏松#高频率#
低频率
高电压
以上都对
- 将X射线管阳极靶材料由钼改为钨,所产生的连续X射线()。如果介质是连续分布的,则其中任何一点的振动将引起相邻各点的振动,因而在波动中任何一点都可看成一个新的波阵面。这种现象属于()的范畴。超声波的声速一般
- 双壁透照双面成像时,有效透照长度()。道德是人们应当遵守的()和标准。无损检验的方法有()。()缺陷是金属材料机械加工过程中产生的缺陷。白点是一种细微的裂纹,它是由于()因素而产生的。波源为一无限长柱体
- 焦点尺寸越小,还包括测试试件的一些其他信息,在透照工件时出现下列情况()。观察某张底片时,将会使该底片黑度()。通常计算几何不清晰度所用的焦点尺寸就是()。当X射线机的管电压和管电流一定,若将X射线管阳极靶
- 对小口径薄壁管采用双壁透照双面成像时,有效透照长度()。工件的()最适合的无损检测方法为PT。超声波从液体倾斜入射到固体,当入射角小于第一临界角时,固体中()。一般指向角(),探测灵敏度就越高,可以提高对缺
- X射线管需要高真空的原因是()。无损检测的MT方法适用于()表面和近表面的检测。球面波的波前是以声源为中心的()。超声波的声速一般只与介质的()有关,而与频率无关。光子能量的数学计算式为()。关于射线在材
- X射线管需要训练的目的是()。介质中()相同的所有质点的轨迹称为波阵面。仪器垂直线性的好坏直接影响到对()的判断。超声波探伤中,“盲区”是指()。A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是()。射线检
- 当X射线机的管电压和管电流一定,若将X射线管阳极靶材料由钼改为钨,例如结构、性质、状态等,正确选择()。散射衰减是指由于材料()不均匀,从而引起声能的散射。增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反
- 以下不是影响几何不清晰度的主要原因是()。扩散衰减是指在声波的传播过程中,随着传播距离的增大,声速截面积也不断扩展增大,单位面积上的声能(或声压)()。半波透声层是指使藕合层厚度为其半波长的()。射线源
- 胶片对比度是指()。道德是人们应当遵守的()和标准。检查热处理工艺是否正确应将无损检测的主要实施时机放在()。以下与再热裂纹有关的叙述是()。在两种不同材料的界面上,声阻抗差会引起()。在其他条件不变
- X射线基本性质是()。无损检测是在现代科学技术上发展的。是指在不破坏被检材料的情况下,以()为手段,借助先进的技术和设备器材,对被检对象的内部或表面进行检测或测定。疲劳裂纹和应力腐蚀裂纹是在()过程中产生
- 一般携带式X光机采用的冷却方式是()。由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。光电效应发生时,光子能量()。为了提高观片效果,观片室环境的亮度应()。强制油循环
油浸自冷#
水冷
散热片工件底面回波
始脉
- 改善几何不清晰度可利用()。锻造裂纹种类很多,常见的有()。分贝与奈培的换算关系是()。可以改变仪器灵敏度的控制开关或旋钮有()。管材水浸探伤要求管材中声束入射角在()。射线检测不适用的对象为()。当
- X射线荧光屏法的优点是()。铸造缺陷中的()是由于冷却不均匀产生的应力使金属表面断裂而引起的。可以改变仪器灵敏度的控制开关或旋钮有()。假定某放射性同位素的衰变常数λ=0.231/年,则其半衰期为()。检验速度
- 通常X射线机的冷却方法采用()。职业道德是指人们在一定的()范围内遵守的行为规范的总和。波阵面中波的传播方向称为()。射线检测不适用的对象为()。通常计算几何不清晰度所用的焦点尺寸就是()。A、气体对流
- 胶片特性曲线上某切点的斜率叫做()。介质中()相同的所有质点的轨迹称为波阵面。衰减系数μ与()无关。伦琴是()的能量单位。夹渣在射线底片上具有()特征。射线机窗口加过滤器的目的是()。A、反差系数
B、胶
- 在X射线底片上,黑度值较均匀的,呈长条黑色不规则影象的是()。检查热处理工艺是否正确应将无损检测的主要实施时机放在()。机械波是指机械振动在()中的传播过程。传播过程中只有能量的传输,没有质点的位移。GB33
- X射线工业电视探伤的主要优点是()。波阵面中波的传播方向称为()。锻件探伤中,引起底波降低或消失的原因有()。下列不属于射线检测方法的是()。透照厚度差别较大的工件时,为了增大宽容度,可以采用()方法。为
- 影响几何不清晰度的主要原因是()。职业道德是指人们在一定的()范围内遵守的行为规范的总和。以下与再热裂纹有关的叙述是()。波在弹性介质中的传播速度是()。活塞波声源,声束轴线上最后一个声压极大值到声源
- 当焦距为1000mm时,其“几何不清晰度”为()。()缺陷是金属材料机械加工过程中产生的缺陷。两个振幅和频率都相同的相干波,在同一直线上沿相反方向传播时叠加而成的波,称为()。在其他条件不变的情况下,则产生连续X
- 大功率X射线机的冷却方法采用()。当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率()。直径为1.25cm,频率为2.25MHz的换能器在水中的半扩散角为()。常用的A型显示超声波探伤仪,以示波屏横轴代表超声
- 夹渣在射线底片上具有()特征。气孔、欠铸、冷隔和夹渣是由()工艺引起的缺陷。近场区长度是指声束轴线上最后一个声压()点至声源的距离。试块是用于探伤系统性能测试或灵敏度调整的试块。试块的材质、形状、尺寸
- 高感光度的X光胶片比低感光度的胶片对比度()。在大多数情况下()频率的探头分辨率最好。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的()。底片的不清晰度主要是影响()。观察某张底片时,如果提高观片灯的亮度,将会使该底片黑
- X射线机采用()的冷却方式。驻波是指两个振幅和频率都()的相干波,在同一直线上沿相反方向传播时叠加而成的波。在同一界面上,声强透过率T与产压反射率r之间的关系是()。超声波通过一定厚度的薄层介质,若介质两侧
- 散射线会影响射线照相底片的()。对无损检测认识的叙述中,下列说法正确的是()。下列()适合于渗透检测方法。波长是指在()中,当孔径不变,声程增加1倍时,平底孔的回波高度差为()。机械波是指机械振动在()中
- 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响,经常采取的措施是()。()是波的干涉现象的特例。近场区长度是指声束轴线上最后一个声压()点至声源的距离。在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是(
- γ射线的能量单位是()。以下()因素有可能使设备中原来存在的,制造规范允许的小缺陷扩展开裂,或使设备中原来没有缺陷的地方产生这样或那样的新生缺陷,最终导致设备失效。熔化的金属浇铸时,由于飞溅、起浪、浇铸间
- 韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时,与靶的()相互作用而放出电子的能量,产生连续Χ射线的。A型扫描显示中,()是指始脉冲宽度和仪器阻塞恢复时间。如曝光量增加1倍,底片黑度增加0.09,该胶片的反差系数为()。
- 阳极靶上的焦点在与X射线束轴线垂直面上的投影称为()。铸造缺陷中的()是由于冷却不均匀产生的应力使金属表面断裂而引起的。指向性是指()集中向一个方向辐射的性质。在大多数情况下()频率的探头分辨率最好。
- γ射线源的能量用()单位表示。在两种不同材料的界面上,声阻抗差会引起()。()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。光电效应指的是入射光子与原子中的()相互作用后,产生光电子的现象。
- 在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是()。聚焦探头主要的用途有()。对小口径薄壁管采用双壁透照双面成像时,有效透照长度()。当X射线机的管电压和管电流一定,若将X射线管阳极靶材料由钼改为钨,
- 散射线对穿透射线的比率()时,底片上缺陷图像的对比度较高。压电材料是指能够产生()的材料。在大多数情况下()频率的探头分辨率最好。晶片共振波长是晶片厚度的()。若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声
- 产生散射线对底片质量影响最大的是()。声强与声压振幅二次方成()。超声波的声速一般只与介质的()有关,而与频率无关。脉冲重复频率是指()。超声仪中使用校准过的衰减器的目的是()。胶片对比度是指()。光
- 有效焦点是2.5mm×2.5mm,则实际焦点是()。焊缝中的()缺陷最适合的无损检测方法为超声波探伤。在两种不同材料的界面上,声阻抗差会引起()。分贝和奈培都是同纲量的两个参量的比值用对数表示的()。垂直线性的好
- X射线也叫伦琴射线,是由()辐射产生的。球面波的波前是以声源为中心的()。一般(),主声束越窄,声能量越集中,则探测灵敏度就越高。()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。放射线物质原
- 焊缝中的气孔缺陷常见的主要分布形态是()。在X≥3N的距离上,当声程不变,孔径增加1倍时,球孔的回波高度差为()。在X光管中,阴极到阳极的电子运动速度取决于()。A、孤立
B、密集、链状
C、虫状
D、以上都是#3dB
6d
- 散射线对照相底片的影响主要降低射线照相的()。射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时()产生的物理作用。下述无损检测方法中,最适用检测焊接接头V坡口未熔合缺陷的方法是()对比度、清晰度#
对比度、灰雾度
- 通常计算几何不清晰度所用的焦点尺寸就是()。()是波的干涉现象的特例。超声波探测气孔时,反射波(),这是因为气孔通常是球形,其反射波是发散的。指向性是指()集中向一个方向辐射的性质。一般来说探头指向角越
- 伦琴是()的能量单位。晶体材料在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场和极化。这种效应称为()。为了有助于分辨力的提高,则宜采用()。A型扫描显示从荧光
- 钴60辐射的γ射线能量为()。以下()因素有可能使设备中原来存在的,制造规范允许的小缺陷扩展开裂,或使设备中原来没有缺陷的地方产生这样或那样的新生缺陷,最终导致设备失效。在焊接件中可能发现下列()缺陷。横波