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  • 原子核的()称为该原子的原子序数。

    原子核的()称为该原子的原子序数。无损检测的MT方法适用于()表面和近表面的检测。()是指同一介质中传播的几个声波,若同时到达某一质点,则该质点的振动是各个声波所引起振动的合成。X射线管管电压是指X射线管阴
  • 在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是()。

    在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是()。()缺陷是原材料带来的缺陷。锻件探伤灵敏度的校正方法()。γ射线通过被检查物质,强度衰减取决于()。X射线基本性质是()。CH3COOH H3BO3 Na22SO4 Na2
  • 下述()是底片处理中影响定影过程的主要因素。

    下述()是底片处理中影响定影过程的主要因素。除了常规的无损检测方法外,为避免修正,则应采用()。X光机的额定管电压为200kVp,该机的最高工作电压为()。GB3323-87B标准规定:观片灯的最大亮度不小于()。X射线
  • 发生电子对效应的光子能量范围为()。

    发生电子对效应的光子能量范围为()。在同一界面上,声强透过率T与产压反射率r之间的关系是()。为了有助于分辨力的提高,宜采用()。从提高底片清晰度而言()。下述有关焊接变形和焊接应力的叙述,错误的是()A、
  • 定影液最主要的作用是()。

    定影液最主要的作用是()。应用无损检测技术,通常是为了达到()的目的。管材水浸探伤要求管材中声束入射角在()。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的()。曝光量和管电压随材料厚度变化的曲线是()。射线检测适用对
  • 光子能量的数学计算式为()。

    光子能量的数学计算式为()。电磁波波长λ的数字计算公式为()。如曝光量增加1倍,底片黑度增加0.09,该胶片的反差系数为()。对于射线检验的防护而言,应着重考虑的是()。E=hλ/v E=λ/hv E=hv# E=λhvλ=ch λ=c/v# λ=
  • 光电效应随物质原子序数的增大而增强,随光子能量的增大而()。

    光电效应随物质原子序数的增大而增强,随光子能量的增大而()。无损检测是指在()的前提下,对试件进行检查和测试的方法。声压反射率是指()与入射声压之比。超声波探测气孔时,反射波较低,这是因为()。在大多数情
  • 电磁波波长λ的数字计算公式为()。

    电磁波波长λ的数字计算公式为()。波在传播过程中遇到障碍物时能绕过障碍物的边缘继续前进的现象,称为波的()。在毛面工件上使用软保护膜探头的优点是()。λ=ch λ=c/v# λ=hv λ=cv波的衰减 波的衍射# 波的叠加 波
  • 连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而

    连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而平均波长值()。道德是人们应当遵守的()和标准。超声波从液体倾斜入射到固体,当入射角小于第一临界角时,固体中()。中子辐射具有独特的穿透能力,但容
  • 放射线物质原子衰变一半所需的时间叫做()。

    放射线物质原子衰变一半所需的时间叫做()。分贝与奈培的换算关系是()。()是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,是扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。垂直线性的好坏影响缺陷定量的精度,一般规定
  • 假定某放射性同位素的衰变常数λ=0.231/年,则其半衰期为()。

    假定某放射性同位素的衰变常数λ=0.231/年,则其半衰期为()。碰撞时发生部分能量转移是()特征。5.3年 33年 3年# 75天康普顿效应# 瑞利效应 正负电子 电子对效应
  • 放射性同位素衰变时,同位素的原子核以()方式蜕变。

    放射性同位素衰变时,同位素的原子核以()方式蜕变。工件的()最适合的无损检测方法为PT。波阵面中波的传播方向称为()。声波的速度主要取决于声波通过的()。对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的
  • 放射性物质原子数衰变到原来()所需的时间称为半衰期。

    放射性物质原子数衰变到原来()所需的时间称为半衰期。工件的()最适合的无损检测方法为PT。介质中()相同的所有质点的轨迹称为波阵面。连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而平均波长值()
  • 原子核外电子能级最高的是()。

    原子核外电子能级最高的是()。平面波的波前是平行于声源的()。把晶体材料放在电场中,它自身产生形变,称为()。若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,将引起()。造成底片清晰度不良
  • 射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时()产生的物理作用。

    射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时()产生的物理作用。直径为1.25cm,频率为2.25MHz的换能器在水中的半扩散角为()。()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、射线能量的衰减 B、
  • 对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的是()。

    对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的是()。应用无损检测技术,通常是为了达到()的目的。垂直线性的好坏影响缺陷定量的精度,一般规定垂直线性误差()。影响仪器灵敏度的旋钮有()。常用吸收剂量
  • 射线探伤中用得最多的方法是()。

    射线探伤中用得最多的方法是()。波源为一无限长柱体,任意时刻的波阵面为一()。()是波的干涉现象的特例。半波透声层是指使藕合层厚度为其半波长的()。()是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,是扫描线上显示的
  • 在射线探伤中应用最多的射线是()。

    在射线探伤中应用最多的射线是()。探头频率与晶片厚度有关,晶片越薄()。由于波的绕射,使超声波探伤灵敏度约为(),因此提高频率,有利于发现更小的缺陷。在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有
  • 下列不属于射线检测方法的是()。

    下列不属于射线检测方法的是()。白点是一种细微的裂纹,它是由于()因素而产生的。波阵面中波的传播方向称为()。α射线属于()。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的()。把显影后的胶片放入定影液后,胶片未感光部分
  • 射线检测不适用的对象为()。

    射线检测不适用的对象为()。()较大可获得较高的接收灵敏度。以工件底面作为灵敏度校正基准时可以()。在射线探伤中应用最多的射线是()。光电效应发生时,光子能量()。焊缝 铸件 封闭物的内部结构 大型锻件#
  • 射线检测方法分为()。

    射线检测方法分为()。在超声波探伤中,由于波的干涉现象的存在,使超声场呈现出()的声压分布。()是指把被检测工件的一部分浸在水中或被检测工件与探头之间保持水层而进行探伤的方法。X射线检测 γ射线检测 中子
  • 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低

    方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。分辨力是仪器和探头的综合性能指标。能区分相邻两缺陷的距离越小,分辨力()。γ射线的能量单位是()。X射线管
  • 锻件探伤中,引起底波降低或消失的原因有()。

    锻件探伤中,引起底波降低或消失的原因有()。超声波的衰减主要取决于()。从提高底片清晰度而言()。使底片上未经感光的溴化银溶解的液体是()。探头接触不良 遇到了材质衰减大的部位 工件底面不平整 以上都对#A
  • 锻件探伤灵敏度的校正方法()。

    锻件探伤灵敏度的校正方法()。铸件中常见的缺陷有()。超声波倾斜入射至异质界面时(第二介质为固体时),透射波发生波形转换,且也不同于入射波的方向而是按()来确定的。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,由于
  • 锻件接触法探伤中,如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生(

    如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生()。锻造裂纹种类很多,如果在某点相遇,则相遇处该质点的振动是各个波所引起(),以上所述是指波的叠加原理。散射衰减是指由于材料()不均匀,从而引起声能的散射。()是
  • 缺陷定量的依据是()。

    缺陷定量的依据是()。声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于()。连续X射线的总强度可表达为()。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的()。一般认为,使用中的定影液通透时间是新定影液通透时间的()时,可认为该定影液
  • 要尽量避免在()探伤定量。

    要尽量避免在()探伤定量。在焊接件中可能发现下列()缺陷。()是波的干涉现象的特例。下列()探伤中最可能使用25MHz的探头。散射线对穿透射线的比率小时,底片上缺陷图像的对比度()。焊缝中的气孔缺陷常见的主
  • 参考反射体定位的依据是()在时基线上的位置。

    参考反射体定位的依据是()在时基线上的位置。在增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波高度的分贝差值称为()。射线的衰减叙述是正确的()。零点位移 探头杂波 始脉冲宽度 反射体回波#探测范围
  • 扫描线上显示的反射波距离与()成正比。

    扫描线上显示的反射波距离与()成正比。无损检测的MT方法适用于()表面和近表面的检测。超声波探伤仪在单位时间内所产生的脉冲数目叫做()。射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时()产生的物理作用。原子核的
  • 横波入射到平面缺陷时,会产生波型转换现象,这与波的()有关。

    横波入射到平面缺陷时,会产生波型转换现象,这与波的()有关。焊缝内的气孔最适合的无损检测方法为()。波源为一无限长柱体,任意时刻的波阵面为一()。一般来说,在频率一定的情况下,在给定的材料中,横波探测缺陷要
  • 下面()参考反射体与入射角声束无关。

    下面()参考反射体与入射角声束无关。钢板的分层缺陷因其延伸方向与板平行,()。()是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。锻件接触法探伤中,如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生(
  • 超声波到达两种不同材料的界面时,会发生()。

    超声波到达两种不同材料的界面时,会发生()。无损检测是指在()的前提下,对试件进行检查和测试的方法。利用(),可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传播方向,可以解释声波在均匀和非均匀介质中传播的许多现象
  • 当横波入射到平面缺陷时,会产生()现象,这与波的入射角有关。

    当横波入射到平面缺陷时,会产生()现象,这与波的入射角有关。下列()缺陷能被磁粉探伤检验出来。介质中波动传到的任意一点都可看作为发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的包罗就形成了一个新的波阵面。这一
  • 探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用()。

    探测粗糙表面的工件时,应选用()。在进行无损检测时必须根据无损检测的目的,正确选择()。由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加,近场区长度迅速增加,()。一般来说探头指向角越小(),从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断
  • 直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。

    直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。无损检测不需要损坏试件就能完成检测过程,探测灵敏度就越高,可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。在X光管中,阴极到阳极的电子运动速度取决于()。一般认
  • 由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。

    由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到()。以下()因素有可能使设备中原来存在的,制造规范允许的小缺陷扩展开裂,或使设备中原来没有缺陷的地方产生这样或那样的新生缺陷,最终导致设备失效。()是指介质中任意一
  • 粗糙的入射表面会使()。

    制造规范允许的小缺陷扩展开裂,或使设备中原来没有缺陷的地方产生这样或那样的新生缺陷,最终导致设备失效。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,从而一部分声能变成(),导致声能的损耗。试块是用于探伤系统性能测试或
  • 零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示

    零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做()。超声波探伤中,“盲区”是指()。检测晶粒粗大的材料,应使用()。吸收剂量在国际单位制中的单位和符号是()。中子辐射具有独特的穿透能力,
  • 检测晶粒粗大的材料,应使用()。

    检测晶粒粗大的材料,应使用()。道德是人们应当遵守的()和标准。在X≥3N的距离上,当()不变,声程增加1倍时,大平底的反射声压为原来的1/2倍。仪器垂直线性的好坏直接影响到对()的判断。下列不属于射线检测方法的
  • 超声试验系统的灵敏度()。

    超声试验系统的灵敏度()。()称为波线。()是指波在传播过程中,若遇到障碍物或其他不连续的情况,而使波阵面发生畸变的现象。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内摩擦,从而一部
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