查看所有试题
- 为了有助于分辨力的提高,则宜采用（）。焊缝中的（）缺陷最适合的无损检测方法为超声波探伤。可变角探头主要用于（）。在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是（）。能量扩散的探头
高频率#
低频率
以
- 分贝和奈培都是同纲量的两个参量的比值用对数表示的（）。调节衰减器旋钮可以改变仪器的（）。晶片共振波长是晶片厚度的（）。在吸收剂量相同的情况下,下列（）射线对人体的危害程度最大。散射线对穿透射线的比率（
- 分辨力是仪器和探头的综合性能指标。能区分相邻两缺陷的距离越小,分辨力（）。超声波倾斜入射至异质界面时（第二介质为固体时）,透射波发生波形转换,分离为折射纵波和折射横波。两种折射波的传播方向不同,且也不同于
- （）方式能够产生与工作平面图形重叠的缺陷面积记录。影响直接接触法超声耦合的因素有（）。关于射线在材料中的衰减,下述（）叙述是正确的。A型扫描
B型扫描#
C型扫描
以上都是耦合层厚度
超声波在耦合介质中的波长
- 熔化的金属浇铸时,由于飞溅、起浪、浇铸间断或来自不同方向的两股金属流会合而引起的缺陷叫做（）。可变角探头主要用于（）。缺陷距离远时,要采用（）。连续X射线的总强度可表达为（）。韧致辐射是指高速运动的电子
- 由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加,近场区长度迅速增加,（）。对于核反应堆的核燃料质量检查,较适宜的无损检测方法是（）。对探伤有利
对探伤不利#
半扩散角增大
超声波能量发散X射线照相检测
伽马射线照相检测
中子射线照
- 在增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波高度的分贝差值称为（）。当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率（）。连续X射线波长与下列（）因素有关。探测范围
动态范围#
垂直
- 增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波（）的分贝差值称为动态范围。气孔、欠铸、冷隔和夹渣是由（）工艺引起的缺陷。仪器（）的好坏直接影响到对缺陷位置的判断。在直探头探伤过程中,引起底波高
- 垂直线性的好坏影响缺陷定量的精度,一般规定垂直线性误差（）。声波在介质中传播的速度称为（）。若仪器重复频率过高,将会出现（）。（）是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。（）是指把
- 检查热处理工艺是否正确应将无损检测的主要实施时机放在（）。在超声波探伤中,由于波的干涉现象的存在,使超声场呈现出（）的声压分布。分贝与奈培的换算关系是（）。机械波是指机械振动在（）中的传播过程。传播过程
- 可变角探头主要用于（）。连续X射线波长与下列（）因素有关。光电效应就是（）的过程。锻件探伤
板波探伤#
液浸探伤
以上都不对靶的材料
管电流
管电压#
曝光时间A、显像
B、完全吸收一个光子#
C、转变成可见的电磁
- 在进行无损检测时必须根据无损检测的目的,正确选择（）。探测粗糙表面的工件时,为了提高声能的传递,应选用（）。锻件接触法探伤中,如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生（）。电子的能级最高的是（）。以下哪一
- 以下不是影响几何不清晰度的主要原因是（）。下述有关焊接变形和焊接应力的叙述,错误的是（）射线源焦点尺寸、焦距
缺陷至胶片距离
焦点至缺陷的距离
焦点至胶片的距离#使焊件上的热量尽量均匀可减小焊接变形和焊接
- 超声波探伤仪的（）与探头性能无关。若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,将引起（）。康普顿效应作用过程的特征是（）。A.动态范围B.垂直线性C.工作频率D.以上都对透射
反射
共振#
波形
- 一个垂直线性好的仪器在荧光屏上的波幅从100%降至50%时,衰减（）。仪器放大器的增益愈大,表示（）,愈能检出小缺陷。X、γ射线的区别是（）。6dB#
18dB
24dB
32dB灵敏度愈低
灵敏度愈高#
仪器的工作电压愈高
以上都可
- 水平线性的好坏影响缺陷定位的精度,一般规定水平线性误差（）。职业道德是指人们在一定的（）范围内遵守的行为规范的总和。利用（）,可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传播方向,可以解释声波在均匀和非均匀介
- 仪器垂直线性的好坏直接影响到对（）的判断。仪器（）的好坏直接影响到对缺陷位置的判断。下述（）是底片处理中影响定影过程的主要因素。使用铅箔增感,透照某工件采用15mA。2min曝光得到满意结果,若其他条件不变,改
- （）缺陷是金属材料机械加工过程中产生的缺陷。在射线照相所采用的能量范围（100keV~10MeV）内,射线强度被钢材材料衰减主要是由下列（）引起的。下述哪些是在选择焊缝透照方式时必须确定的几何参数？（）。残余缩孔
- 仪器（）的好坏直接影响到对缺陷位置的判断。当两种介质声阻抗的大小差异很小时,超声波入射后的声压反射率（）。以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。光电效应随物质原子序数的增大而增强,随光子能量的增大而（
- X射线管管电压是指X射线管阴极与阳极之间的（）电压值。X、γ射线的共同点是（）。最大#
最小
中间
平均都是电磁波的一种#
都是由同一种方法产生的
速度不同的辐射
以上都不对
- 仪器放大器的增益愈大,表示（）,愈能检出小缺陷。X射线管管电压是指X射线管阴极与阳极之间的（）电压值。宽容度大的胶片,其（）。γ射线的能量单位是（）。下述有关咬边缺陷产生原因的叙述,哪一条是错误的（）灵敏度
- （）是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,是扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。气孔、欠铸、冷隔和夹渣是由（）工艺引起的缺陷。增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波（）的分贝
- 无损检验的方法有（）。在维修检查工作中,经常遇到的缺陷种类有（）。波在传播过程中遇到障碍物时能绕过障碍物的边缘继续前进的现象,称为波的（）。当两种介质声阻抗的大小差异很小时,声强透过率T与产压反射率r之间
- 试块是用于探伤系统性能测试或灵敏度调整的试块。试块的材质、形状、尺寸（）。无损检测是指在（）的前提下,对试件进行检查和测试的方法。无损检测的MT方法适用于（）表面和近表面的检测。（）称为波线。不需要检定,
- 对比试块上的人工反射体尺寸（）。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内摩擦,从而一部分声能变成（）,导致声能的损耗。超声波通过一定厚度的薄层介质,若介质两侧的物质声阻抗相等,
- 对超声波探伤试块材质的基本要求是（）。（）方式能够产生与工作平面图形重叠的缺陷面积记录。造成底片清晰度不良的原因是（）。焊缝中的气孔缺陷常见的主要分布形态是（）。在X射线底片上,黑度值较均匀的,呈长条黑
- 用试块的方法校准仪器探测灵敏度时,为避免修正,则应采用（）。职业道德是指人们在一定的（）范围内遵守的行为规范的总和。对比试块上的人工反射体尺寸（）。超声波探伤中,“盲区”是指（）。中子辐射具有独特的穿透能
- 把晶体材料放在电场中,它自身产生形变,称为（）。（）是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是（）。正压电效应
逆压电效应#
压电常数
- 平面波的波前是平行于声源的（）。钴60辐射的γ射线能量为（）。一条直线
圆球面
圆柱面
无限大平面#3MeV、1MeV
2.17MeV、1.88MeV
1.17MeV、1.33MeV#
0.67MeV、0.53MeV
- 原子核的（）称为该原子的原子序数。底片的不清晰度主要是影响（）。如曝光量增加1倍,底片黑度增加0.09,该胶片的反差系数为（）。质子数#
中子数
电子数
光子数宽度尺寸较小的细节影像的可识别性
影响细小缺陷的可检
- （）缺陷是原材料带来的缺陷。超声波探测气孔时,反射波（）,这是因为气孔通常是球形,其反射波是发散的。在大多数情况下（）频率的探头分辨率最好。（）可获得较高的频率。（）是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反
- 晶体材料在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场和极化。这种效应称为（）。下列（）适合于渗透检测方法。（）缺陷属于铸件中的缺陷。活塞波声源,声束轴线上
- 在维修检查工作中,经常遇到的缺陷种类有（）。波阵面中波的传播方向称为（）。光电效应随物质原子序数的增大而增强,随光子能量的增大而（）。GB3323-87标准中规定A级、AB级照相底片的黑度为（）。通常X射线机的冷却
- 在毛面工件上使用软保护膜探头的优点是（）。以下与再热裂纹有关的叙述是（）。一般来说探头指向角越小（）,从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。一般指向角（）,探测灵敏度就越高,可以提高对缺陷的分
- 压电材料是指能够产生（）的材料。下列（）缺陷能被磁粉探伤检验出来。波的衍射是指波在传播过程中,若遇到障碍物或其他不连续的情况,而使（）发生畸变的现象。在X光管中,阴极到阳极的电子运动速度取决于（）。窄束射
- 聚焦探头主要的用途有（）。声强与声压振幅二次方成（）。共振式超声波测厚仪是利用超声波的（）原理设计的。伦琴是（）的能量单位。焊缝中的气孔缺陷常见的主要分布形态是（）。减小声束宽度,提高移动法测长的精度
- 可变角探头主要用于（）。检查热处理工艺是否正确应将无损检测的主要实施时机放在（）。以下焊缝缺陷不属于外观缺陷的是（）。（）缺陷是金属材料机械加工过程中产生的缺陷。对比试块上的人工反射体尺寸（）。原子核
- 常用的A型显示超声波探伤仪,以示波屏横轴代表超声波传播时间,（）。在超声波传播过程中,（）与波阵面始终垂直。波在弹性介质中的传播速度是（）。在增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波高度的分
- 探头匹配了阻尼块以后,使始脉冲变窄,（）。职业道德是指人们在一定的（）范围内遵守的行为规范的总和。无损检测是指在（）的前提下,对试件进行检查和测试的方法。试块是用于探伤系统性能测试或灵敏度调整的试块。试
- 仪器放大器的增益愈大,表示（）,愈能检出小缺陷。分贝与奈培的换算关系是（）。参考反射体定位的依据是（）在时基线上的位置。光电效应发生时,光子能量（）。胶片对比度是指（）。一般携带式X光机采用的冷却方式是（
川公网安备 51012202001360号