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- 假定某放射性同位素的衰变常数λ=0.231/年,则其半衰期为（）。碰撞时发生部分能量转移是（）特征。5.3年
33年
3年#
75天康普顿效应#
瑞利效应
正负电子
电子对效应
- 无损检测不需要损坏试件就能完成检测过程,因此无损检测能够对产品进行（）。（）是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,是扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。指定区域的检验
抽样检验
百分之百检验或逐
- 射线检测方法分为（）。放射性物质原子数衰变到原来（）所需的时间称为半衰期。以下关于内力和应力的叙述,哪一条是错误的（）Ｘ射线检测
γ射线检测
中子射线检测
以上都是#1/2#
1/4
1/3
1/5内力是指材料内部各部分之
- 近场区长度是指声束轴线上最后一个声压（）点至声源的距离。射线照相时,在暗盒背放置铅板的原因是（）。A、极小值
B、极大值#
C、平均值
D、以上都不对阻挡背面散射线#
铅有增感作用
支承暗盒
A和B
- 疲劳裂纹和应力腐蚀裂纹是在（）过程中产生。熔化的金属浇铸时,因而在波动中任何一点都可看成一个新的波阵面。这种现象属于（）的范畴。波的衍射是指波在传播过程中,若遇到障碍物或其他不连续的情况,它们的区别是（
- 放射性同位素衰变时,同位素的原子核以（）方式蜕变。工件的（）最适合的无损检测方法为PT。波阵面中波的传播方向称为（）。声波的速度主要取决于声波通过的（）。对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的
- 熔化的金属浇铸时,由于飞溅、起浪、浇铸间断或来自不同方向的两股金属流会合而引起的缺陷叫做（）。（）是波的干涉现象的特例。当缺陷很小时,平面型缺陷和球面型缺陷的回波幅度（）。缺陷定量的依据是（）。常用的像
- 当介质Ⅰ的声阻抗远远大于介质Ⅱ,超声波从介质Ⅰ入射到介质Ⅱ的凹曲面时,反射波（）。参考反射体定位的依据是（）在时基线上的位置。从提高底片清晰度而言（）。产生发散现象
产生聚焦现象#
无变化
消失零点位移
探头杂
- 放射性物质原子数衰变到原来（）所需的时间称为半衰期。工件的（）最适合的无损检测方法为PT。介质中（）相同的所有质点的轨迹称为波阵面。连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而平均波长值（）
- 原子核外电子能级最高的是（）。平面波的波前是平行于声源的（）。把晶体材料放在电场中,它自身产生形变,称为（）。若声波在被检工件内传播,当试件的厚度为超声波半波波长的整数倍时,将引起（）。造成底片清晰度不良
- 射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时（）产生的物理作用。直径为1.25cm,频率为2.25MHz的换能器在水中的半扩散角为（）。（）是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、射线能量的衰减
B、
- 对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的是（）。应用无损检测技术,通常是为了达到（）的目的。垂直线性的好坏影响缺陷定量的精度,一般规定垂直线性误差（）。影响仪器灵敏度的旋钮有（）。常用吸收剂量
- 射线探伤中用得最多的方法是（）。波源为一无限长柱体,任意时刻的波阵面为一（）。（）是波的干涉现象的特例。半波透声层是指使藕合层厚度为其半波长的（）。（）是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,是扫描线上显示的
- 在射线探伤中应用最多的射线是（）。探头频率与晶片厚度有关,晶片越薄（）。由于波的绕射,使超声波探伤灵敏度约为（）,因此提高频率,有利于发现更小的缺陷。在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有
- 下列不属于射线检测方法的是（）。白点是一种细微的裂纹,它是由于（）因素而产生的。波阵面中波的传播方向称为（）。α射线属于（）。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的（）。把显影后的胶片放入定影液后,胶片未感光部分
- 射线检测不适用的对象为（）。（）较大可获得较高的接收灵敏度。以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。在射线探伤中应用最多的射线是（）。光电效应发生时,光子能量（）。焊缝
铸件
封闭物的内部结构
大型锻件#
- 射线检测方法分为（）。在超声波探伤中,由于波的干涉现象的存在,使超声场呈现出（）的声压分布。（）是指把被检测工件的一部分浸在水中或被检测工件与探头之间保持水层而进行探伤的方法。Ｘ射线检测
γ射线检测
中子
- 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。分辨力是仪器和探头的综合性能指标。能区分相邻两缺陷的距离越小,分辨力（）。γ射线的能量单位是（）。X射线管
- 锻件探伤中,引起底波降低或消失的原因有（）。超声波的衰减主要取决于（）。从提高底片清晰度而言（）。使底片上未经感光的溴化银溶解的液体是（）。探头接触不良
遇到了材质衰减大的部位
工件底面不平整
以上都对#A
- 锻件探伤灵敏度的校正方法（）。铸件中常见的缺陷有（）。超声波倾斜入射至异质界面时（第二介质为固体时）,透射波发生波形转换,且也不同于入射波的方向而是按（）来确定的。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,由于
- 如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生（）。锻造裂纹种类很多,如果在某点相遇,则相遇处该质点的振动是各个波所引起（）,以上所述是指波的叠加原理。散射衰减是指由于材料（）不均匀,从而引起声能的散射。（）是
- 缺陷定量的依据是（）。声波容易探测到的缺陷尺寸一般不小于（）。连续X射线的总强度可表达为（）。γ射线的波长仅仅取决于辐射源的（）。一般认为,使用中的定影液通透时间是新定影液通透时间的（）时,可认为该定影液
- 要尽量避免在（）探伤定量。在焊接件中可能发现下列（）缺陷。（）是波的干涉现象的特例。下列（）探伤中最可能使用25MHz的探头。散射线对穿透射线的比率小时,底片上缺陷图像的对比度（）。焊缝中的气孔缺陷常见的主
- 参考反射体定位的依据是（）在时基线上的位置。在增益不变时,探伤仪荧光屏上,能分辨最大反射波和最小反射波高度的分贝差值称为（）。射线的衰减叙述是正确的（）。零点位移
探头杂波
始脉冲宽度
反射体回波#探测范围
- 扫描线上显示的反射波距离与（）成正比。无损检测的MT方法适用于（）表面和近表面的检测。超声波探伤仪在单位时间内所产生的脉冲数目叫做（）。射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时（）产生的物理作用。原子核的
- 横波入射到平面缺陷时,会产生波型转换现象,这与波的（）有关。焊缝内的气孔最适合的无损检测方法为（）。波源为一无限长柱体,任意时刻的波阵面为一（）。一般来说,在频率一定的情况下,在给定的材料中,横波探测缺陷要
- 下面（）参考反射体与入射角声束无关。钢板的分层缺陷因其延伸方向与板平行,（）。（）是指在斜射探伤中,超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。锻件接触法探伤中,如果探伤仪的“重复频率”调得过高,可能发生（
- 超声波到达两种不同材料的界面时,会发生（）。无损检测是指在（）的前提下,对试件进行检查和测试的方法。利用（）,可以确定不同波源辐射的声波的形状和波的传播方向,可以解释声波在均匀和非均匀介质中传播的许多现象
- 当横波入射到平面缺陷时,会产生（）现象,这与波的入射角有关。下列（）缺陷能被磁粉探伤检验出来。介质中波动传到的任意一点都可看作为发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的包罗就形成了一个新的波阵面。这一
- 探测粗糙表面的工件时,应选用（）。在进行无损检测时必须根据无损检测的目的,正确选择（）。由N=D2/4λ可知晶片尺寸增加,近场区长度迅速增加,（）。一般来说探头指向角越小（）,从而可以提高对缺陷的分辨力和准确判断
- 直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生（）。无损检测不需要损坏试件就能完成检测过程,探测灵敏度就越高,可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。在X光管中,阴极到阳极的电子运动速度取决于（）。一般认
- 由粗晶组织引起的散射,在示波屏上会看到（）。以下（）因素有可能使设备中原来存在的,制造规范允许的小缺陷扩展开裂,或使设备中原来没有缺陷的地方产生这样或那样的新生缺陷,最终导致设备失效。（）是指介质中任意一
- 制造规范允许的小缺陷扩展开裂,或使设备中原来没有缺陷的地方产生这样或那样的新生缺陷,最终导致设备失效。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,从而一部分声能变成（）,导致声能的损耗。试块是用于探伤系统性能测试或
- 零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做（）。超声波探伤中,“盲区”是指（）。检测晶粒粗大的材料,应使用（）。吸收剂量在国际单位制中的单位和符号是（）。中子辐射具有独特的穿透能力,
- 检测晶粒粗大的材料,应使用（）。道德是人们应当遵守的（）和标准。在X≥3N的距离上,当（）不变,声程增加1倍时,大平底的反射声压为原来的1/2倍。仪器垂直线性的好坏直接影响到对（）的判断。下列不属于射线检测方法的
- 超声试验系统的灵敏度（）。（）称为波线。（）是指波在传播过程中,若遇到障碍物或其他不连续的情况,而使波阵面发生畸变的现象。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内摩擦,从而一部
- 在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。在X≥3N的距离上,当声程不变,孔径增加1倍时,球孔的回波高度差为（）。横波探伤时调节扫描速度的方法有（）。散射线对照相底片的影响主要降低射线照相的
- A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。锻件探伤中,引起底波降低或消失的原因有（）。以下哪一条不是产生未焊透的原因（）缺陷的性质和大小
缺陷的形状和取向
缺陷的回波幅度和时间距离#
超声波的波形
- 横波探伤时调节扫描速度的方法有（）。在进行无损检测时必须根据无损检测的目的,正确选择（）。高感光度的X光胶片比低感光度的胶片对比度（）。声程调节法
水平距离调节法#
深度调节法
以上都是无损检测的实施时机
- 无损检验的方法有（）。冷裂纹的特征是（）。分贝和奈培都是同纲量的两个参量的比值用对数表示的（）。超声波的衰减主要取决于（）。探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的函数。它随（）。扫描线上显示的反射波距离与
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