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- CSP-1连续抽检计划采用的AQL不变,如果抽检比率f减少,则相应的i会：（）。Product SPC主要用于监控以下哪些问题？（）某工序参数使用的X-R Chart长期不会出现失控现象,我们的做法是：（）。增大#
减小
不变
不能确定
- 测量系统的统计特性包括以下哪些内容：（）。以下哪项中包含的全部都是计数型控制图？（）一般认为控制（）对改善及控制制程更为有效。重复性和再现性#
稳定性#
线性#
偏差#P图,NP图,X-R图,C图
P图,NP图,X-R图,U图
P
- 测试仪器使用的X-R Chart失控,下列说法哪种正确：（）。X-R Chart控制图LCL=-15,UCL=15,则2s警界线的数值是（）。作控制图时,一般要求抽取样本的时间间隔不应超过（）小时。某工程师要求生产部员工为他收集组内样本
- 工序中引起变动的误差概括来说可分为：（）。现在我们的SPC chart中广泛应用的WARNINGRULE是哪两条？（）可以使用C=0sampling plan抽检生产产品有：（）。测试机做R&R时,所选取物料数值的大小：（）。偶然误差和
- 导致测量仪器偏差不合格的主要原因有：（）。二项分布是（）的基础。使用控制图对于生产过程进行监控,首先应（）。产品公差为100,则SetHead的控制界限允许最大是（）。Product SPC控制参数应用抽样评估风险所采用的A
- C=0sample plan抽检方案所采用的检查水平为：（）。Ⅰ级
Ⅱ级
Ⅲ级
以上都不对#
- SPC技术的主要内容包括：（）。现有计量型数据,子组容量为12,应该选择哪一种控制图？（）做SPC Set Head收集始原数据计算控制界限至少读取（）个Data。某工序参数使用P-Chart控制,抽取5个样本检查,发第一个样本缺陷
- 测量仪器做R&R时,一般要求测量样本数和参与人员的乘积：（）。二项分布是（）的基础。导致测量仪器偏差不合格的主要原因有：（）。大于10
大于15#
大于20
大于30P和np图#
C和u图
C和np图仪器未经过适当校准#
测
- 测量系统研究的内容包括有哪些？（）统计控制状态下生产的好处中不包括（）。Product SPC主要用于监控以下哪些问题？（）准确度#
CPK
R&R#
相关性#管理的安排是最合理的
生产是最经济的
设备运行状态#
过程的变
- 生产部某员工作P-Chart时抽了30ea料,发现1ea料有裂,崩两种坏项,1ea料有崩1种坏项,则该点应为：（）。形成变差的普通原因,其特点是（）。SPC被检举人不同意作假事实,是否需要在SPC检举书上签名？（）计量型Data与计数
- 若X-R Chart刚失控时,生产主任应该第一时间跟谁确认失控有效的直实性：（）。提高过程能力指数的途径是（）。CSP-1连续抽检计划采用的AQL不变,如果抽检比率f减少,则相应的i会：（）。测试机做R&R时,所选取物料数
- 控制图没有失控,但样本内其中一个数值超出产品规格,主任的正确做法是：（）。以下哪个选项不属于过程的重要输入（）。过程能力研究时：每（）小时抽取（）件,每班填写一张能力测算表单。以下哪项中包含的全部都是计
- X-R Chart失控后改善行动是否最终有效由谁来确认？（）Product SPC主要用于监控以下哪些问题？（）Cpk的大小与以下哪几个参数有关？（）通常原因与特殊原因主要对工序中生产的产品影响是：（）。生产组长
生产主任#
- 如果生产主任找不到X-R Chart失控的原因,下一步应该交谁来处理：（）。生产经理
QE工程师
ME工程师#
生产组长
- 某工序参数使用的X-R Chart长期不会出现失控现象,我们的做法是：（）。影响过程输出的所有点的值的变差原因叫（）。Cpk的大小与以下哪几个参数有关？（）继续保持该工序控制
重新修正该工序控制#
考虑取消该工序控制
- 测试机做相关性试验时,推荐使用的银Head数量一般为（）。（）负责进行过程能力统计以及数据分析。以数据性质来分﹐控制图可分为﹕（）。以下关于控制线设置的说法哪一种是错误的？（）SPC需要用（）制作。控制图的主
- 计量型Data与计数型Data比较,计量型Data一般：（）。测试机做R&R时,一般需要选取（）个料。做R&R时,可以通过极差来判断设备的分辨率是否足够,具体规格要求是极差为零的百分比是多少？（）测量系统的统计特性
- 可以使用C=0sampling plan抽检生产产品有：（）。影响过程输出的所有点的值的变差原因叫（）。以数据性质来分﹐控制图可分为﹕（）。哪个部门确保SPC Head的数量与相应的MSP文件一致？（）CP的大小与下列哪些因素有
- 同一批料采用相同的AQL检视,则用C=0Plan抽取的样本n1和用MIL-STD-105D抽取的样大小n2的关系有：（）。统计控制状态下生产的好处中不包括（）。计量型Data与计数型Data比较,计量型Data一般：（）。采用C=0sample plan
- 属于计数型抽检方案的有：（）。双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限,则该工序参数的工序能力：（）。CSP-1连续抽检方案#
C=0Sampling Plan#
MIL-STD-414抽检方案
MIL-STD-105D抽检方案#CPK逐步变大
CP逐步
- 导致控制图失控的特殊原因反映在工序产品质量上：（）。（）负责进行过程能力统计以及数据分析。以下哪项中包含的全部都是计数型控制图？（）以下哪种情况下,请问：这里所说的散度是（）。想长期不断的改善工序性能,
- 通常原因与特殊原因主要对工序中生产的产品影响是：（）。产品中心值偏移为零,CPK=1,在正态分布下,工序中超出产品规格下限而导致翻工或报废的百分比为：（）。导致合格品与不合格品的出现
导致稳定与不稳定的出现#
- 工序是否稳定可以看什么可以知道？（）做好R&R可以帮助我们（）。抽样检验中,生产者风险a与消费者风险b一般取值（）。对于进行破坏实验的参数,其控制图上的组内样本数（n）至少取（）。平均值的大小
标准偏差Std
- 生产线中可采用哪些质量管理工具改善提高产品质量？（）Mil-Std-105E抽检方案的一般检验水平一般用（）级。现有三台机开两班,为方便对比知道同一参数在每台机的出数品质情况,使用控制图的数量为：（）。因果图#
控制
- Cpk的大小与以下哪几个参数有关？（）控制图的控制限（）。SPC过程过程涉及（）数据整理,各种图形分析,制程分析等。做R&R时,可以通过极差来判断设备的分辨率是否足够,具体规格要求是极差为零的百分比是多少？（
- 请问Lafe使用的Control Chart USL和UCL有什么关系？（）如过程历史数据计算的AVERAGE=5,则LCL（控制下限）,CL（控制中心）,UCL（控制上限）分别是（）。USL=UCL
USL>=UCL#
USL<=UCL4.5,5.1,5.7
4.4,5.0,5.6#
4
- 生产线上可以用抽检的工序有：（）。现在我们的SPC chart中广泛应用的WARNINGRULE是哪两条？（）使用直方图时,参数的CPK连续（）周大于或等于1.33,可以考虑转用X-R Chart控制。SPC被检举人不同意作假事实,是否需要在
- 备用Set Head哪些人可以借出使用：（）。CSP-1抽样方案适用于：（）。Product SPC主要用于监控以下哪些问题？（）生产线中可采用哪些质量管理工具改善提高产品质量？（）选取10组Data对两台测试机做相关性试验,结果
- 由于停产而在生产线上作废的X-RChart应保存多长时间？（）如果将超出规格上限或下限的产品数据不记录或翻工后才记录,会导致直方图产生哪种不理想的分布？（）如果生产线混料或员工测量错误,会导致员工作的直方图产生
- SM银Head的数量不少于（）。做产品参数X-R Chart,组内样本数n=3时,则要求至少收集多少个数据？（）SPC Head的贮存表内应该至少填写哪些内容？（）选取10组Data对两台测试机做相关性试验,结果发现B机的数值随A机数值
- 下面何种检验不适合采用CSP抽样检验：（）。下列关于SPC的目的和作用说法正确的是（）。计数型控制图中,组内样本数n可以是变数的有哪些？（）Tester SPC Set Head用于连续监控量度设备的：（）。若生产工序只有通常
- 在实际应用中,Histogram双边规格内共有（）组。过程改进循环的三个阶段是（）。产品测量角度数值分别为5度29分&4度31分,则一共等于（）。CSP-1连续抽检计划在下列哪种情况下可由f=2抽1转为3抽1：（）。10组#
8组
- 做R&R时,每个员工对每只料至少读（）次。分布是描述有变差的（）系统输出的方法。过程的波动通常可分为普通原因和特殊原因,对于普通原因通常需要采取（）措施。以下哪种情况下,现行控制线需重新计算？（）使用控
- 对于进行破坏实验的参数,其控制图上的组内样本数（n）至少取（）。当过程规范只存在上限（如：控制图上有几条警界线？（）用一个标准件去检测设备准确性时,该标准件一般需测量（）次。计量型Data与计数型Data比较,计
- X-R Chart用3Sigma作为控制线,上限为5.5刀,则3Sigma等于（）。控制图的基本类型有哪些（按数据类型分）？（）以下哪项中包含的全部都是计数型控制图？（）X-R Chart控制图相应R Chart的控制下限是否为零与以下哪些因
- 参数Set Head控制规格UAAR-LAAR=60刀,则该参数USL-LSL至少为（）。控制图中连续（）点递增或递减,应判为异常。SPC在工厂推行实施过程中主要由（）主导。100刀
200刀#
300刀A．6#
B．7
C．8
D．9C
- 某工序参数使用P-Chart控制,抽取5个样本检查,发第一个样本缺陷有崩,第二个样本缺陷有烂1处,其余三个样本OK,则控制图上填写的数值为（）。控制图中连续（）点递增或递减,应判为异常。用金Head对标准机验证时,每个员工
- 裂,烂3处,第二个样本缺陷有崩,过程目标值=5.1,则LCL（控制下限）,UCL（控制上限）分别是（）。计数型参数有哪些？（）5#
6
74.5,5.1,5.0,5.6#
4.5,5.5物料高度
物料坏品数#
物料推力值
物料缺陷率#
- 某工程师要求生产部员工为他收集组内样本数为6的Product SPC Chart的Raw Data,请问该生产部员工所收集的Raw Data数量应为（）。Mil-Std-105E抽检方案的一般检验水平一般用（）级。做R&R时,每个员工对每只料至少
- Product SPC主要用于监控以下哪些问题？（）CSMC SPC控制线的设置原则是（）。测量设备的准确误差率小于或等于（）为可以接受。某工序参数使用P-Chart控制,抽取5个样本检查,发第一个样本缺陷有崩,裂2处,第二个样本缺
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