【导读】
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1. [单选题]CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()
A. 测定斜探头K值 B. 测定直探头盲区范围 C. 测定斜探头分辨率 D. 以上全部