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- 两光波频率相同,在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差,这是光波产生干涉的()。壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于()。在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。必要条件#
充分
- 用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为()。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的()。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选
- 在使用平晶时,会使平晶平面度()。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过()。非接触测量是测量装置的()元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用
- 测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。设计基面#
工艺基面
装配基面
- 直角尺的工作角的垂直度要求,随其结构型式不同也不一样,有的分0级和1级,其垂直度不超过()。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,
- 非接触测量是测量装置的()元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺
- 用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,为便计量结果更准确些,应选下列电
- 由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。一次误差
二次误差#
三次误差设计基面#
工艺基面
装配基面
- 分度值为0.05mm/m的条式水平仪,同时还应有较高的()。对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,并尽可能的以()为基准。比较仪指针末端应盖住分度
- 在1级平板上进行,其平面度不大于()。孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,则三爪组成的园周半径位移是()。非接触测量是测量装置的()元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。标准件的精度要求较高,
- 杠杆齿轮式比较仪的示值变化及示值误差在非正常方位时,可按正常方位放大()。接触测量是测量装置的()元件(测头)与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。20%
30%
50%#敏感#
灵敏
灵活
- 比较仪测帽测量面对测量轴线的垂直度不大于()。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。两光波频率相同,在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差,这是光波
- 比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于()。接触测量是测量装置的()元件(测头)与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的()。在
- 比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的()。检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时,在1级平板上进行,对1级平板来说,其平面度不大于()。用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的
- 内径千分表的示值误差受检点是每隔()检一点。用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为()。0.1mm
0.02mm
0.05mm#1/2入#
入
C>1/4入
- 内径量表示值误差是在工作行程()上进行检定。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测
- 块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即()确定。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。一级杠杆千分表,在任意0.2mm范围内的示值差不超过()。检定游标高
- 一级杠杆千分表,在任意0.2mm范围内的示值差不超过()。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点
- 按我国法计量单位的使用规则,15℃应读成()。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。
- 已知某仪器最大允许误差为3(置信概率0.9973),则其B类不确定度表征值为()。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。内径千分表的示
- 用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少()。用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为()。在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。量块的等是在检定时,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,应选下列电流表中的()。直角尺的工作角的垂直度
- 下面是计量不确定度的几种定义,国际通用的定义是()。壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于()。已知某仪器最大允许误差为3(置信概率0.9973),则其B类不确定度表征值为()。用平面平晶检查平面度时,若
- 被计量的电源是0.45A,为便计量结果更准确些,应选下列电流表中的()。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。内径千分表的示值误差受检点是每隔()检一点。
- 在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择()。接触测量是测量装置的()元件(测头)与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。贝塞尔点
艾利点#
距量块端面0.2232L点敏感#
灵敏
灵
- 测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过()。量块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条
- 对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的()。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过()。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择()。分度值为0.05mm/m
- 由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是()。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的()。一次误差
二次误差#
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的()。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。无论尺框紧固
- 接触测量是测量装置的()元件(测头)与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过()。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择()。
- 已知某仪器最大允许误差为3(置信概率0.9973),则其B类不确定度表征值为()。比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的()。在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。1#
2
3
420-70%
30-80%#
40
- 在测量量块的平面平行性时,除了采用()技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少()。非接触测量是测量装置的()元件与被
- 在接触测量中,其接触形式对测量结果也有影响,最常见的接触形式有点接触、线接触和面接触。从误差角度考虑,齿厚卡尺的综合误差应不超过()。量块的等是在检定时,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。被计
- 因而没有机械作用的测量力。用平面平晶检定量具表面平面度时,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,需
- 在检定量杆时,为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为a,则满足贝塞尔点的条件是()。已知某仪器最大允许误差为3(置信概率0.9973),则其B类不确定度表征值为()
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。四块
一块#
二块
- 量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。测量精度
制造精度
检定误差#
- 量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为(
- 正确选择测量方法的原则是:既要保证测量的精度,又要()适应。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。分度值为0.05mm/m的条式水平仪,零位误差不超过()。
- 量块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即()确定。比较仪测帽测量面对测量轴线的垂直度不大于()。杠杆齿轮式比较仪的示值变化及示值误差在非正常方位时,可按正常方位放大()。制造精度