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- 孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移是()。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择()。0.25mm#
0.5mm
0.75mm贝塞尔点
艾利点#
距量块端面0.2232L
- 分度值为0.05mm/m的条式水平仪,零位误差不超过()。分度值的1/4#
分度值的1/3
分度值的1/2
- 在检定量杆时,为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为a,则满足贝塞尔点的条件是()。非接触测量是测量装置的()元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用
- 检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制()。视差#
读数误差
刻度误差
- 比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的()。20-70%
30-80%#
40-90%
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的()。下面是计量不确定度的几种定义,国际通用的定义是()。内径千分表的示值误差受检点是每隔()检一点。尺寸准确性
耐磨性
尺寸稳定性#表
- 测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。设计基面#
工艺基面
装配基面
- 在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择()。已知某仪器最大允许误差为3(置信概率0.9973),则其B类不确定度表征值为()。贝塞尔点
艾利点#
距量块端面0.2232L点1#
2
3
4
- 杠杆齿轮式比较仪的示值变化及示值误差在非正常方位时,可按正常方位放大()。20%
30%
50%#
- 在接触测量中,其接触形式对测量结果也有影响,最常见的接触形式有点接触、线接触和面接触。从误差角度考虑,点接触所引起的误差为()。非接触测量是测量装置的()元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测
- 无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过()。分度值为0.05mm/m的条式水平仪,零位误差不超过()。±0.01mm
±0.02mm
±0.03mm#分度值的1/4#
分度值的1/3
分度值的1/2
- 在测量量块的平面平行性时,除了采用()技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,取其中最大绝对值作为该量块平面平行性偏差。内径量表示值误差是在工作行程()上进行检定。光栅
激光
光波干涉#正向(测头
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。尺寸准确性
耐磨性
尺寸稳定性#设计
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即()确定。一块#
二块
三块测量精度
制造精度
检定误差#
- 在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。变凹#
变凸
不变
- 在检定量杆时,为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为a,则满足贝塞尔点的条件是()。孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移
- 非接触测量是测量装置的()元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。敏感#
灵敏
灵活
- 比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于()。检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时,在1级平板上进行,对1级平板来说,其平面度不大于()。在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平
- 内径千分表的示值误差受检点是每隔()检一点。0.1mm
0.02mm
0.05mm#
- 由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是()。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以()为基准。一次误差
二次误差#
三次误差设计基面#
工艺基面
装配基面
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。四块
一块#
二块
- 下面是计量不确定度的几种定义,国际通用的定义是()。按我国法计量单位的使用规则,15℃应读成()。表征被计量的真值所处的量值所处的量值范围的评定#
用误差极限规定的各计算结果的分散性
表示由于计量误差的存在而
- 一级杠杆千分表,在任意0.2mm范围内的示值差不超过()。2μm
3μm#
4μm
- 用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值应处于()