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- 衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角？（）如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是（）。样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是（）在待测试样中
- 洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是（）A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响#
D、试样形状对衍射强度的影响
- 洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是（）A、晶粒大小对衍射强度的影响
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响#
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
- 立方晶系{100}晶面的多重性因子为（）最常用的X射线衍射方法是（）。选区光阑在TEM镜筒中的位置是（）已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时,位错不可见,那么它的布氏矢量是（）。A、2
B、3
C、4
D、6
- 洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是（）A、晶粒大小对衍射强度的影响#
B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响
C、衍射线位置对衍射强度的影响
D、试样形状对衍射强度的影响
- 在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面（）。6；
4；#
2
1；。
- 对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是（）最常用的X射线衍射方法是（）。衍射仪法中的试样形状是（）。在待测试样中掺入一定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的
- 晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（）。测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是（）。当偏离矢量S能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是（）。波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是（）。垂直；
平行
- 晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为（）单晶体电子衍射花样是（）。透射电镜中电中间镜的作用是（）要分析基体中碳含量,一般应选用（）电子探针仪,A、（364）
B、（234）#
C、
- 对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有（）如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是（）。将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（）A、11
- 对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有（）能提高透射电镜成像衬度的光阑是（）A、200
B、220
C、112#
D、111A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑#
C、选区光阑
D、索拉光阑
- 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是（）。六方结构；
立方结构；
四方结构；
A或B。#
- 每项工作只估计或规定一个确定的持续时间值的方法称为（）估计法。单晶体电子衍射花样是（）。粉末照相法所用的试样形状为（）单时规则的平行四边形斑点；#
同心圆环；
晕环；
不规则斑点。A、块状
B、分散
C、圆柱
- 能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是（）。高阶劳厄斑；#
超结构斑点；
二次衍射斑；
孪晶斑点
- 菊池线可以帮助（）。在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面（）。波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是（）。估计样品的厚度；
确定180º不唯一性；
鉴别有序固溶体；
精确测定晶体取向。#6；
4；#
2
1；。快速
- 当偏离矢量S测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是（）。当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时所看到的粒子大小（）。球面外；#
球面上；
球面内；
B+C。保持同步1﹕1；
2﹕1；#
1﹕2；
1﹕0。小于真实粒子大小；
- 薄片状晶体的倒易点形状是（）。测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是（）。热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（）利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计
- 单晶体电子衍射花样是（）。以气体电离为基础制造的计数器是（）规则的平行四边形斑点；#
同心圆环；
晕环；
不规则斑点。A、正比计数器
B、盖革计数器
C、闪烁计数器
D、A和B#
- 选区光栏在TEM镜筒中的位置是（）。电子衍射成像时是将（）。PDF卡片中,数据最可靠的用（）表示制造出世界上第一台透射电子显微镜的是（）透射电镜中聚光镜的作用是（）物镜的物平面；
物镜的像平面#
物镜的背焦面；
- 电子衍射成像时是将（）。对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有（）测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是（）。中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；#
中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；
- 可以提高TEM的衬度的光栏是（）。测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是（）。物镜光阑安放在（）第二聚光镜光栏；
物镜光栏；#
选区光栏；
其它光栏。外标法；
内标法；
直接比较法；#
K值法。A
- PDF卡片中,数据可靠程度最低的用（）表示A、i
B、★
C、○#
D、C
- 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是（）。可以消除的像差是（）。波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是（）。1000；
10000；
40000；#
600000。球差；
像散；#
色差；
A+B。快速高效；#
- 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是（）。对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有（）1000；
10000；
40000；#
600000。A、200
B、220
C、112#
D、111
- M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称（）最常用的X射线衍射方法是（）。洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是（）透射电镜中电中间镜的作用是（）Kα；
Kβ；#
Kγ；
Lα。劳厄法；
粉末多法；#
周转晶体法；
- 由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（）已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时,位错不可见,那么它的布氏矢量是（）。A、球差#
B、像散
C、色差
D、背散b=（0-10）；
b
- 菊池线可以帮助（）。估计样品的厚度；
确定180º不唯一性；
鉴别有序固溶体；
精确测定晶体取向。#
- 用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。薄片状晶体的倒易点形状是（）。由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（）X射线透射学；
X射线衍射学；#
X射线光谱
- 低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为（）PDF卡片中,数据可靠程度最低的用（）表示由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）A、正装法#
B、反装法
C、偏装法
D、任意安装都可A、i
B、★
C、○#
D、
- 可以消除的像差是（）。对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有（）透射电镜中物镜的作用是（）当t=5s/2时,衍射强度为（）。要分析基体中碳含量,一般应选用（）电子探针仪,球差；
像散；#
色差；
A+B。A、112
B、113
- 当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是（）。质厚衬度；
衍衬衬度；
应变场衬度；#
相位衬度。
- 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是（）。当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生（）能提高透射电镜成像衬度的光阑是
- 立方晶系{100}晶面的多重性因子为（）A、2
B、3
C、4
D、6#
- 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是（）。1000；
10000；
40000；#
600000。
- 透射电镜中电中间镜的作用是（）A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像#
- 衍射仪法中的试样形状是（）。当偏离矢量SPDF卡片中,数据最可靠的用（）表示已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时,位错不可见,那么它的布氏矢量是（）。丝状粉末多晶；
块状粉末多晶；#
块状单晶；
- 测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是（）。保持同步1﹕1；
2﹕1；#
1﹕2；
1﹕0。
- 德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。以气体电离为基础制造的计数器是（）正装法；
反装法；
偏装法；#
A+B。A、正比计数器
B、盖革计数器
C、闪烁计数器
D、A和B#
- 最常用的X射线衍射方法是（）。劳厄法；
粉末多法；#
周转晶体法；
德拜法。
- 当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生（）低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为（）光电子；
二次荧光；
俄歇电子；
A+C#A、正
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